鐵譜分析技術(shù)與濾膜鐵譜分析技術(shù)鐵譜分析是識(shí)別磨損模式和機(jī)械故障根本原因的強(qiáng)大技術(shù)。鐵譜分析是一個(gè)深入的、結(jié)論性的測(cè)試，因?yàn)樗褂脽崽幚砑夹g(shù)和偏振光技術(shù)可以識(shí)別金屬的不同類型、顆粒顏色、表面和形態(tài)，并可判斷磨損產(chǎn)生原因和機(jī)理。鐵譜根據(jù)譜片制備，可分為濾膜鐵譜和分析鐵譜。

       進(jìn)行鐵譜分析的最大缺點(diǎn)是它既耗時(shí)又需要依賴專業(yè)人士來(lái)進(jìn)行分析。這種技能只有工作多年分析了大量鐵譜圖的專業(yè)技術(shù)人員才具有。鐵譜技術(shù)需要與其他更快的篩選技術(shù)相結(jié)合才能獲得成功。單獨(dú)使用鐵譜技術(shù)檢測(cè)常規(guī)樣品并不可靠和實(shí)際。

       SEM EDX技術(shù)使用非常高的放大率來(lái)觀察和檢查顆粒，并使用EDX裝置對(duì)顆粒進(jìn)行元素分析。與傳統(tǒng)的金相顯微鏡相比，SEM的景深要大得多。這種景深增強(qiáng)意味著粒子可以在高放大倍數(shù)下保持聚焦，用戶可得到更多的細(xì)節(jié)。與標(biāo)準(zhǔn)磨損顆粒分析類似，使用光學(xué)顯微鏡SEM EDX不適合進(jìn)行常規(guī)樣品分析。該儀器昂貴并且該技術(shù)涉及一些樣品制備，例如對(duì)樣品施加導(dǎo)電涂層以提高完整鐵譜分析的分辨率。然而如果需要識(shí)別問(wèn)題的根本原因或需要進(jìn)一步確證，建議進(jìn)行完整鐵譜分析。